P. Janda: Spektroskopické techniky v mikroskopii rastrovací sondou: nano-chemická analýza in situ?

Anotace přednášky:

 

Mikroskopie rastrovací sondou - mikroskopie atomárních sil (AFM), tunelová mikroskopie (STM) a metody odvozené umož�ují zkoumání povrchu v rozsahu zvětšení, jehož horní hranice odpovídá molekulárnímu resp. atomárnímu rozlišení. Informace, které lze tímto způsobem získat zahrnují jak topografická data (plné 3D zobrazení povrchu), tak i některé materiálové parametry (tvrdost, elasticita, vazebné interakce, elektronová hustota).

Přesto však plnohodnotná chemická analýza povrchu, která by nepostrádala žádnou z hlavních výhod technik rastrovací sondou – tj. vysoké povrchové rozlišení a možnost pracovat in situ - dosud chyběla. Umožní nové metody využívající mikroskopie rastrovací sondou – silová spektroskopie AFM, optická mikroskopie a spektroskopie blízkého pole (SNOM) a hrotem zesílená Ramanova a fluorescenční mikroskopie a spektroskopie (TERS-TEFS) tuto mezeru zaplnit?

• Janda_lecture_presentation_LS2008.pdf (1.23MB)

• Sbornik_Janda_prednaska_LS2008.pdf (0.17MB)

[Zpět]